半導體BOWMAN X射線熒光電鍍膜厚測試儀檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器,保證鍍層厚度品質(zhì),減少電鍍成本浪費. 典型的應用範圍如下:
單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
半導體BOWMAN X射線熒光電鍍膜厚測試儀是通過.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素。
博曼線路板電鍍鍍層膜厚測試儀應用于PCB.五金,電鍍,端子.連接器.金屬等多個領域.讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造最大的價值是金東霖追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍圖,有需要的朋友請聯(lián)系周小姐,聯(lián)系電話:0755-29371651
美國博曼(BOWMAN)X射線熒光膜厚測試儀應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發(fā)能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素,BOWMAN膜厚測試儀高分辨硅-PIN-***器,配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ,應用于端子,連接器,細小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛(wèi)浴,等行業(yè)