Super 8000 真空元素分析光譜儀
專為真空條件下專業(yè)的級(jí)分析而設(shè)計(jì),可分析微量的Na~U元素,高性能、高真空度,利用美國高壓、高性能光管和SDD(硅漂移探測(cè)器)頂級(jí)配置,再加上多組濾光和準(zhǔn)直系統(tǒng)組合,是XRF能散分析的終極裝備。
性能優(yōu)勢(shì):
高真空系統(tǒng),專為真空測(cè)試環(huán)境而設(shè)計(jì)
高效超薄窗X光管,全系原裝進(jìn)口
高效X射線光管進(jìn)一步提升性能
無標(biāo)樣分析和多參數(shù)線性回歸方法,使測(cè)量更簡單和結(jié)果更準(zhǔn)確
原裝進(jìn)口SDD硅漂移探測(cè)器,超高分辨率、峰背比、計(jì)數(shù)率
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,全面提升信噪比
標(biāo)準(zhǔn)配置:
高效超薄Be窗X光管
高性能電制冷SDD探測(cè)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
多重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu),力度可靠的保證
技術(shù)指標(biāo):
測(cè)量元素范圍:從鈉(F)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
分析精度:0.035%(含量高于96%以上的樣品、21次測(cè)試穩(wěn)定性)
測(cè)量時(shí)間:60秒-200秒
能量分辨率為:(130±5)eV
管壓:5KV-50KV
管流:0uA-1000uA
應(yīng)用領(lǐng)域:
地質(zhì)礦產(chǎn)、合金分析、ROHS分析、貴金屬分析、鍍層測(cè)厚等